Probe FS40HF探頭：

電導(dǎo)率儀探頭 FS40HF探頭根據(jù)DIN EN 2004-1和ASTM E 1004來測(cè)量非磁性金屬的電導(dǎo)率。由于集成了溫度傳感器，所有探頭都適合進(jìn)行溫度校正的測(cè)量，并自動(dòng)顯示標(biāo)準(zhǔn)化為20°的電導(dǎo)率值 C（68°F）。 所有探頭均在高頻下工作，因此只能在低材料深度下進(jìn)行測(cè)量。 使用的測(cè)量方法可以進(jìn)行無接觸測(cè)量，也可以在非導(dǎo)電面漆（如漆面或塑料蓋）下進(jìn)行測(cè)量。

        • 近地表測(cè)量
        • 薄板的測(cè)量
        • 關(guān)于薄涂層的磨損程度的判定
        • 熱噴涂層評(píng)估

展示圖：

尺寸圖：

上海吉馨實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司 主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
    ==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
    ==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
    ==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
    ==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
    ==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
    ==>>美國(guó)API  XD系列激光干涉儀；
    ==>>美國(guó)GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
    ==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
    ==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
    ==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng)；
    ==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
    ==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
    ==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
    ==>>杭州思看科技三維掃描儀.